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基于谱线相关性的激光诱导击穿光谱技术半定量分析方法
丛智博; 孙兰香; 辛勇; 杨志家
Department工业控制网络与系统研究室
Source Publication冶金分析
ISSN1000-7571
2012
Volume32Issue:SPages:471-477
Contribution Rank1
Keyword激光诱导击穿光谱 半定量分析 相关系数 特征谱线 快速测量
AbstractLIBS 技术是一种利用分析等离于体辐射发射尤谱,从而对未知物进行定性定量分析的在线分析技术。由于此技术所分析的等离于体生命周期短,稳定性差,在定量分析上存在很大误差。本文提出了一种利用被测物特征谱线组与标准谱线组进行的相关系数比较来对未知物进行半定量分析的新方法。通过激尤激发纯铜纯铝样本,选取一系列特征谱线所对应的强度关系作为标准光谱数据,与其他含铜、铝成分不同的样品光谱数据进行相关性革数比较,通过相关系数的大小来确定样品中所含钢、铝成分的多少。实验证明,它能够快速判断被测物质中的元素组成,同时判断元素含量高低,而且可以同时判断多种元素,判 断结果更准确,应用实现更容易。
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sia.cn/handle/173321/10311
Collection工业控制网络与系统研究室
Affiliation中国科学院沈阳自动化所工业信息学重点实验室
Recommended Citation
GB/T 7714
丛智博,孙兰香,辛勇,等. 基于谱线相关性的激光诱导击穿光谱技术半定量分析方法[J]. 冶金分析,2012,32(S):471-477.
APA 丛智博,孙兰香,辛勇,&杨志家.(2012).基于谱线相关性的激光诱导击穿光谱技术半定量分析方法.冶金分析,32(S),471-477.
MLA 丛智博,et al."基于谱线相关性的激光诱导击穿光谱技术半定量分析方法".冶金分析 32.S(2012):471-477.
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