SIA OpenIR  > 沈阳自动化所知识产出(2000年前)
无触点表面定位测量监控装置
其他题名Contactless surface positioning measuring monitoring and controlling device
郭爱力; 董丽春
所属部门中国科学院沈阳自动化研究所
专利权人中国科学院沈阳自动化研究所
专利代理人中国科学院沈阳专利事务所
授权国家中国
专利类型发明
专利状态视为撤回
摘要本装置属于机械表面加工测量装置,其结构由机械部分、光学部分、控制电路部分及微处理器组成,机械部分以磨床为主体,以光束为探测手段,由发光管、经透镜照射到加工件上,然后通过物镜照射到光电器件上成像,由光信号变成电信号,而后输入到微处理器,其优点是采用光电控制系统,提高了加工精度,提高了工效,可用于各种机械精密加工。
其他摘要The present invention belongs to the measuring apparatus for mechanical surface finishing, its construction is composed of machinery part, optic part, control circuit part and micro processor, the machinery part takes the grinder as main body, light beams as means for detection, the light beams from luminotron radiate through lens on the processed workpiece, then passing through objective lens radiate on photoelectric device to form image, it is changed from optic signal to electric signal then input in the microprocessor. The advantage is that the machining accuracy and work efficiency are all improved.
PCT属性
申请日期1992-09-29
1994-04-06
授权日期2013-10-15
申请号CN92109935.5
公开(公告)号CN1084796A
语种中文
产权排序1
文献类型专利
条目标识符http://ir.sia.cn/handle/173321/12630
专题沈阳自动化所知识产出(2000年前)
作者单位中国科学院沈阳自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
郭爱力,董丽春. 无触点表面定位测量监控装置[P]. 1994-04-06.
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