SIA OpenIR  > 自动化系统研究室
表面缺陷检测方法和装置
其他题名Method and apparatus for testing surface defect
邬纪泽; 李伟; 沈大刚
所属部门自动化系统研究室
专利权人广州中国科学院工业技术研究院 ; 中国科学院沈阳自动化研究所
专利代理人广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
授权国家中国
专利类型发明授权
专利状态有权
摘要本发明涉及检测领域,公开了一种表面缺陷检测方法、装置,方法包括:获取表面的原始图像;对原始图像的各像素点,分别计算每像素点在多个方向的梯度值,取其中最大值作为像素点的新的灰度值,得到梯度图像;对梯度图像,如果灰度值像素点的灰度值大于阈值,则将其灰度值赋值为:第一灰度值,否则赋值为:第二灰度值,获取二值化图像;细化二值化图像,得到单线条的二值化图像,其中包括单线条的缺陷边缘;将单线条的缺陷边缘,转换为闭环的缺陷边缘;在原始图像中,比较闭环的缺陷边缘内像素点与外侧附近的像素点的灰度值的大小,如果小于,则判定闭环的缺陷为:表面的缺陷。
其他摘要The invention relates to the testing field, which discloses a method and a device of surface detection of defect, the method includes the following steps: acquiring an original surface image calculating gradient values of every pixel point of the original image along multiple directions respectively, taking a maximum value therein as a new gray value of the pixel point, obtaining a gradient image if the gray value of the gray value pixel point is greater than the threshold value, then the gray value is evaluated as: the first gray value, otherwise is evaluated as: the second gray value, obtaining a binary image refining the binary image, obtaining a single wired binary image, wherein, the single wired defective edge is included converting the single wired defective edge into a close looped defective edge in the original image, comparing the gray values between the pixel point in the close looped defective edge and the pixel point nearby the outside, if less than, the defect of theclose loop is judged as surface defect. Using the technical scheme can achieve the automatic detection of defects in the tested object, which improves the testing efficiency.
PCT属性
申请日期2008-03-26
2008-09-03
授权日期2010-06-02
申请号CN200810027040.X
公开(公告)号CN101256157B
语种中文
产权排序2
文献类型专利
条目标识符http://ir.sia.cn/handle/173321/14345
专题自动化系统研究室
作者单位1.广州中国科学院工业技术研究院
2.中国科学院沈阳自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
邬纪泽,李伟,沈大刚. 表面缺陷检测方法和装置[P]. 2008-09-03.
条目包含的文件 下载所有文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN200810027040.X授权.p(752KB)专利 开放获取ODC PDDL浏览 下载
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[邬纪泽]的文章
[李伟]的文章
[沈大刚]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[邬纪泽]的文章
[李伟]的文章
[沈大刚]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[邬纪泽]的文章
[李伟]的文章
[沈大刚]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: CN200810027040.X授权.pdf
格式: Adobe PDF
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。