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一种基于原子力显微术的石墨烯晶向快速检测方法
其他题名Graphene crystal orientation rapid detection method based on atomic power microscopy
刘连庆; 张嵛; 席宁; 王越超; 董再励
所属部门机器人学研究室
专利权人中国科学院沈阳自动化研究所
专利代理人沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002
授权国家中国
专利类型发明授权
专利状态有权
摘要本发明涉及石墨烯晶向检测技术,具体是一种基于原子力显微术的石墨烯晶向快速检测方法,主要用于石墨烯加工制造领域。本发明采用AFM摩擦力扫描成像技术,在石墨烯材料上任意位置获取一条扫描摩擦力曲线,对该扫描数据运用小波变换和快速傅立叶变换,可提取出该摩擦力扫描线所包含的石墨烯原子的功率谱分布信息,进而作出石墨烯不同晶向的判别。本发明可在室温大气环境下,快速、方便、准确地实现石墨烯晶向的判别,具有重要的实用意义。
其他摘要The invention relates to a graphene crystal orientation detection technique, in particular to a graphene crystal orientation rapid detection method based on the atomic power microscopy. The graphene crystal orientation rapid detection method based on the atomic power microscopy is mainly applied to the field of processing and manufacturing of graphene. According to the graphene crystal orientation rapid detection method based on the atomic power microscopy, the AFM friction scanning imaging technique is adopted, a scanning friction force curve is obtained at any position of a graphene material, the power spectrum distribution information of a graphene atom contained in the friction force scanning curve can be extracted from scanning data by means of wavelet transform and fast Fourier transform, and then different crystal orientations of the graphene are judged. The graphene crystal orientation rapid detection method based on the atomic power microscopy has the advantages of being capable of judging the crystal orientations of the graphene fast, conveniently and accurately in the indoor temperature environment, and high in practicability significance.
PCT属性
申请日期2012-04-27
2013-10-30
授权日期2015-05-20
申请号CN201210128565.9
公开(公告)号CN103376339B
语种中文
产权排序1
文献类型专利
条目标识符http://ir.sia.cn/handle/173321/16019
专题机器人学研究室
作者单位中国科学院沈阳自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
刘连庆,张嵛,席宁,等. 一种基于原子力显微术的石墨烯晶向快速检测方法[P]. 2013-10-30.
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