中国科学院沈阳自动化研究所机构知识库
Advanced  
SIA OpenIR  > 光电信息技术研究室  > 专利
专利名称:
一种基于边缘结构的背景杂波度量方法
作者: 史泽林; 夏仁波; 王学娟; 向伟; 惠斌; 王喆鑫
所属部门: 光电信息技术研究室
专利权人: 中国科学院沈阳自动化研究所
专利代理: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002
专利国别: 中国
专利类型: 发明
专利状态: 实审
摘要: 本发明涉及一种基于边缘结构的背景杂波度量方法,将背景图像分割成大小与目标图像大小相同的单元;建立图像结构特征空间上的目标图像与单元背景杂波图像之间的相似性度量;通过梯度直方图的方法建立目标图像与单元背景杂波图像的边缘结构特征描述,并选用巴氏系数计算图像边缘结构的相似性度量;以目标图像与单元背景杂波图像的边缘结构相似性度量对目标图像和单元背景杂波图像的结构相似性度量进行加权作为单元背景图像的杂波度量,所有单元背景图像杂波度量的平均值,作为整幅背景图像的杂波度量。本发明充分体现人眼视觉在目标识别中主要关注物体结构的特性,提高对成像系统外场性能预测和评估的准确度。
是否PCT专利:
申请日期: 2014-11-10
公开日期: 2016-06-08
专利申请号: CN201410628060.8
公布/公告号: CN105654452A
语种: 中文
产权排序: 1
内容类型: 专利
URI标识: http://ir.sia.cn/handle/173321/18960
Appears in Collections:光电信息技术研究室_专利

Files in This Item: Download All
File Name/ File Size Content Type Version Access License
CN201410628060.8.pdf(3523KB)专利--开放获取View Download

Recommended Citation:
史泽林,夏仁波,王学娟,等. 一种基于边缘结构的背景杂波度量方法. CN105654452A. 2016.
Service
Recommend this item
Sava as my favorate item
Show this item's statistics
Export Endnote File
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[史泽林]'s Articles
[夏仁波]'s Articles
[王学娟]'s Articles
CSDL cross search
Similar articles in CSDL Cross Search
[史泽林]‘s Articles
[夏仁波]‘s Articles
[王学娟]‘s Articles
Related Copyright Policies
Null
Social Bookmarking
Add to CiteULike Add to Connotea Add to Del.icio.us Add to Digg Add to Reddit
文件名: CN201410628060.8.pdf
格式: Adobe PDF
所有评论 (0)
暂无评论
 
评注功能仅针对注册用户开放,请您登录
您对该条目有什么异议,请填写以下表单,管理员会尽快联系您。
内 容:
Email:  *
单位:
验证码:   刷新
您在IR的使用过程中有什么好的想法或者建议可以反馈给我们。
标 题:
 *
内 容:
Email:  *
验证码:   刷新

Items in IR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

 

 

Valid XHTML 1.0!
Copyright © 2007-2017  中国科学院沈阳自动化研究所 - Feedback
Powered by CSpace