SIA OpenIR  > 工业控制网络与系统研究室
嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法
于海斌; 曾鹏; 徐皑冬; 闫炳均; 宋岩; 王志平; 胡波; 王锴; 孙俊男
Department工业控制网络与系统研究室
Rights Holder中国科学院沈阳自动化研究所
Patent Agent沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002
Country中国
Subtype发明
Status实审
Abstract本发明涉及嵌入式外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法。本发明首先将数据存储区域分为数据区域和数据备份区域,CPU将数据区域和数据备份区域分别按地址平均分为8部分,按顺序对数据区域部分进行诊断;在诊断的过程中,先将一部分数据区域数据拷贝到相应的备份区域中,再对数据区域进行数据诊断,诊断结束将备份区域数据拷贝回相应数据区域;本发明诊断程序运行在系统空闲时间,可以把主控制器从繁重的存储器的诊断程序中解放出来,和传统的诊断方法相比,主控制器运行开销比较小,主控制器利用率比较高。本发明能够方便实现程序运行空间的切换,不需要动态更改程序的运行空间,程序设计简单,减少了程序运行空间动态变换产生的故障。
PCT Attributes
Application Date2015-11-27
2017-06-09
Application NumberCN201510864079.7
Open (Notice) NumberCN106815101A
Language中文
Contribution Rank1
Document Type专利
Identifierhttp://ir.sia.cn/handle/173321/20708
Collection工业控制网络与系统研究室
Affiliation中国科学院沈阳自动化研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
于海斌,曾鹏,徐皑冬,等. 嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法[P]. 2017-06-09.
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