SIA OpenIR  > 工业控制网络与系统研究室
一种基于等离子体位置信息的LIBS光谱校正方法
孙兰香; 张鹏; 齐立峰; 于海斌; 曾鹏
所属部门工业控制网络与系统研究室
专利权人中国科学院沈阳自动化研究所
专利代理人沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002
授权国家中国
专利类型发明
专利状态实审
摘要本发明涉及一种基于等离子体位置信息的LIBS光谱稳定方法,具体步骤为:1)获得不同样品位置下的LIBS光谱信号和对应的等离子体图像信号;2)从等离子体图像信息中提取等离子体位置信息;3)通过拟合方法建立LIBS光谱谱段区域和值与对应等离子体位置的关系函数;通过拟合方法建立LIBS光谱特定谱线强度与对应等离子体位置的关系函数;4)使用3)中得到的关系函数建立综合的校正函数;5)使用校正函数对位置未知的LIBS光谱进行校正。以本方法进行校正后的特征谱线,具有更高的稳定性,为定量(定性)分析提供更可靠的谱线信息。
PCT属性
申请日期2016-09-13
2018-03-20
申请号CN201610819393.8
公开(公告)号CN107817239A
语种中文
产权排序1
文献类型专利
条目标识符http://ir.sia.cn/handle/173321/21714
专题工业控制网络与系统研究室
作者单位中国科学院沈阳自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
孙兰香,张鹏,齐立峰,等. 一种基于等离子体位置信息的LIBS光谱校正方法[P]. 2018-03-20.
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