| 一种红外成像盲元的统计分析及评价方法 | |
史泽林 ; 向伟; 惠斌; 邬抒航; 石轶; 花海洋
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| Department | 光电信息技术研究室 |
| Rights Holder | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
| Patent Agent | 21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司 |
| Country | 中国 |
| Subtype | 发明 |
| Status | 公开 |
| Abstract | 本发明涉及一种红外成像盲元的统计分析及评价方法，检测红外原始图像中的盲元像素，转换成二值化图像；将二值化图像定义四个区域，进行盲元连通区域标识，并对整个图像进行扫描，得到所有盲元连通区域；计算每个连通区域的像素数量，根据每个连通区域的像素数量进行分类，分别统计四个区域内的连通区域的像素数量分布；计算盲元概率密度、盲元密度和盲元离散度，对二值化图像进行评价。本发明采用盲元数量、盲元概率密度、盲元密度、盲元离散度四个指标分析盲元的分布情况，可以准确、客观地给出盲元的影响程度。 |
| PCT Attributes | 否 |
| Application Date | 2018-12-20 |
| 2020-06-30 | |
| Application Number | CN201811562949.5 |
| Open (Notice) Number | CN111353495A |
| Language | 中文 |
| Contribution Rank | 1 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.sia.cn/handle/173321/27270 |
| Collection | 光电信息技术研究室 |
| Affiliation | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 史泽林,向伟,惠斌,等. 一种红外成像盲元的统计分析及评价方法[P]. 2020-06-30. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| CN201811562949.5.pdf（742KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Application Full Text | ||
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