SIA OpenIR  > 光电信息技术研究室
一种红外成像盲元的统计分析及评价方法
史泽林; 向伟; 惠斌; 邬抒航; 石轶; 花海洋
Department光电信息技术研究室
Rights Holder中国科学院沈阳自动化研究所
Patent Agent21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司
Country中国
Subtype发明
Status公开
Abstract本发明涉及一种红外成像盲元的统计分析及评价方法,检测红外原始图像中的盲元像素,转换成二值化图像;将二值化图像定义四个区域,进行盲元连通区域标识,并对整个图像进行扫描,得到所有盲元连通区域;计算每个连通区域的像素数量,根据每个连通区域的像素数量进行分类,分别统计四个区域内的连通区域的像素数量分布;计算盲元概率密度、盲元密度和盲元离散度,对二值化图像进行评价。本发明采用盲元数量、盲元概率密度、盲元密度、盲元离散度四个指标分析盲元的分布情况,可以准确、客观地给出盲元的影响程度。
PCT Attributes
Application Date2018-12-20
2020-06-30
Application NumberCN201811562949.5
Open (Notice) NumberCN111353495A
Language中文
Contribution Rank1
Document Type专利
Identifierhttp://ir.sia.cn/handle/173321/27270
Collection光电信息技术研究室
Affiliation中国科学院沈阳自动化研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
史泽林,向伟,惠斌,等. 一种红外成像盲元的统计分析及评价方法[P]. 2020-06-30.
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