SIA OpenIR  > 智能产线与系统研究室
均匀目标表面缺陷检测灰度照度补偿方法
刘明洋; 贺云; 白鑫林; 徐永利; 徐志刚; 侯雯中; 陈月玲; 杜木雄; 张世轩
Department智能产线与系统研究室
Rights Holder中国科学院沈阳自动化研究所
Patent Agent21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司
Country中国
Subtype发明
Status实审
Abstract本发明专利涉及基于均匀目标表面缺陷检测的光照补偿方法。其步骤为:首先利用标定的工业相机对检测目标进行图像采集;其次对图像平均预处理,降低单个亮点和暗点产生的局部噪声;再次分别进行行平均和列平均处理,获得行平均曲线和列平均曲线;然后对多幅图像并获得多个行平均曲线和列平均曲线进行平均值处理,进而获得平滑的行平均曲线和列平均曲线;对平滑的灰度平均值进行归一化处理,然后基于归一化值进行插值处理,可以获得基于此光照条件下的连续平滑的理想模型灰度图像模型;利用最大灰度值图像与插值后的理想灰度图像差值获得光照补偿模板。本发明方法可以有效补差光照不均匀的图像灰度,为后续处理提供更接近光照均匀的优质图像。
PCT Attributes
Application Date2019-12-17
2021-06-18
Application NumberCN201911297499.6
Open (Notice) NumberCN112991243A
Language中文
Contribution Rank1
Document Type专利
Identifierhttp://ir.sia.cn/handle/173321/29228
Collection智能产线与系统研究室
Affiliation中国科学院沈阳自动化研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
刘明洋,贺云,白鑫林,等. 均匀目标表面缺陷检测灰度照度补偿方法[P]. 2021-06-18.
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