Knowledge Management System of Shenyang Institute of Automation, CAS
半导体设备控制中SEMI标准模型研究 | |
刘明哲![]() ![]() ![]() | |
Department | 工业控制系统研究室 |
Source Publication | 仪器仪表学报
![]() |
ISSN | 0254-3087 |
2008 | |
Volume | 29Issue:SPages:687-690 |
Contribution Rank | 1 |
Keyword | 集成电路 电路制造 电路工艺 半导体设备 |
Abstract | 半导体集成电路的生产制造向300mm晶圆的方向发展,对半导体设备的工艺控制、物料传输,设备管理和生产调度都有着更进一步的需求。本文通过分析了半导体制造流程和控制要求,综述了半导体设备控制中的SEMI标准模型,并探讨了这一领域进一步研究的发展方向。 |
Other Abstract | With the development of road to 300mm semiconductor wafer manufacturing,There is a farther requirement of process control,material transfer,equipment management and production scheduling in IC equipment.This paper analyses the semiconductor manufacturing process and control requirement,describes SEMI standard model of IC equipment,and discusses further research in this field. |
Language | 中文 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sia.cn/handle/173321/4874 |
Collection | 工业信息学研究室_工业控制系统研究室 |
Corresponding Author | 刘明哲 |
Affiliation | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 刘明哲,徐皑冬,于海斌. 半导体设备控制中SEMI标准模型研究[J]. 仪器仪表学报,2008,29(S):687-690. |
APA | 刘明哲,徐皑冬,&于海斌.(2008).半导体设备控制中SEMI标准模型研究.仪器仪表学报,29(S),687-690. |
MLA | 刘明哲,et al."半导体设备控制中SEMI标准模型研究".仪器仪表学报 29.S(2008):687-690. |
Files in This Item: | ||||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
ZWQKQW0000198.pdf(452KB) | 期刊论文 | 出版稿 | 开放获取 | ODC PDDL | View Application Full Text |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment