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题名: DFT techniques in an industrial communications SoC chip
作者: Liu YZ(刘肄倬) ; Wang H(王宏) ; Yang ZJ(杨志家)
作者部门: 工业控制系统研究室
会议名称: 8th Workshop on RTL and High Level Testing
会议日期: October 12-13, 2007
会议地点: Beijing, China
会议录: 8th Workshop on RTL and High Level Testing
出版日期: 2007
语种: 英语
产权排序: 1
内容类型: 会议论文
URI标识: http://ir.sia.cn/handle/173321/9739
Appears in Collections:工业信息学研究室_工业控制系统研究室_会议论文

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