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题名: March tests for two-port DRAMs
作者: Wang Y(汪莹) ; Wang H(王宏) ; Lv Y(吕岩) ; Yang ZJ(杨志家) ; Li, Jinfeng
作者部门: 工业控制系统研究室
会议名称: 7th Workshop on RTL and High Level Testing
会议日期: November 23-24, 2006
会议地点: Fukuoka, JAPAN
会议录: 7th Workshop on RTL and High Level Testing
出版日期: 2006
页码: 94-98
产权排序: 1
内容类型: 会议论文
URI标识: http://ir.sia.cn/handle/173321/9742
Appears in Collections:工业信息学研究室_工业控制系统研究室_会议论文

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March tests for two-port DRAMs.pdf(726KB)----开放获取View Download

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汪莹; 王宏; 吕岩; 杨志家.March tests for two-port DRAMs.见:.7th Workshop on RTL and High Level Testing,,2006,129-132
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文件名: March tests for two-port DRAMs.pdf
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