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基于EFM的纳米材料电学性质检测方法及实现技术研究 学位论文
博士, 沈阳: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2015
Authors:  赵增旭
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静电力显微镜  碳纳米管  导电性  电荷  半导体类型