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一种用于原子力显微镜的扫描探针夹持装置 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2015-11-25, 公开日期: 2018-01-02
Inventors:  于鹏;  刘柱;  周磊;  杨洋;  王栋;  刘连庆;  焦念东
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一种用于原子力显微镜的扫描探针夹持装置 专利
专利类型: 发明授权, 公开日期: 2015-11-25, 公开日期: 2018-01-02
Inventors:  于鹏;  刘柱;  周磊;  杨洋;  王栋;  刘连庆;  焦念东
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In-Phase Bias Modulation Mode of Scanning Ion Conductance Microscopy With Capacitance Compensation 期刊论文
IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2015, 卷号: 62, 期号: 10, 页码: 6508-6518
Authors:  Li P(李鹏);  Liu LQ(刘连庆);  Yang Y(杨洋);  Wang YC(王越超);  Li GY(李广勇)
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Capacitance Compensation (Cc)  In-phase Bias Modulation (Ipbm) Mode  Scanning Ion Conductance Microscopy (Sicm)  Signal-to-noise Ratio (Snr)  
基于机器视觉的AFM探针自动逼近技术研究 会议论文
2015年中国自动化大会(CAC 2015)文集, 武汉, 2015年11月27-29日
Authors:  刘静怡;  魏阳杰;  于鹏;  刘柱;  杨洋;  刘连庆;  李洪奎
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原子力显微镜  自动聚焦  自动逼近  机器视觉  
Amplitude Modulation Mode of Scanning Ion Conductance Microscopy 期刊论文
Journal of Laboratory Automation, 2015, 卷号: 20, 期号: 4, 页码: 457-462
Authors:  Li P(李鹏);  Liu LQ(刘连庆);  Yang Y(杨洋);  Zhou L(周磊);  Wang D(王栋);  Wang YC(王越超);  Li GY(李广勇)
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Scanning Ion Conductance Microscopy  Am Mode  Ac Voltage  Capacitance Compensation  Nanoscale Imaging