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Characteristics Analysis for Nanosoldering with Atomic Force Microscope 期刊论文
Nano, 2018, 卷号: 13, 期号: 4, 页码: 1-8
Authors:  Liu ZL(刘增磊);  Gao AL(高爱莲);  Xie SX(解双喜);  Jiao ND(焦念东);  Liu LQ(刘连庆)
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Field-emission deposition  nanosoldering  nanodevice  nanofabrication  
原子力显微镜电场辅助纳米沉积加工 期刊论文
微纳电子技术, 2018, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 910-916
Authors:  刘增磊;  杨旭;  高爱莲;  刘忠超;  王栋;  李密
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原子力显微镜(AFM)  纳米焊接  纳米加工  场蒸发沉积  纳米器件  
原子力显微镜纳米沉积加工温度仿真 期刊论文
纳米技术与精密工程, 2017, 卷号: 15, 期号: 4, 页码: 267-272
Authors:  刘增磊;  高爱莲;  袁帅;  焦念东
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原子力显微镜  纳米焊接  纳米加工  温度仿真  
原子力显微镜针尖基底微小距离控制方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN104345739A, 公开日期: 2015-02-11,
Inventors:  焦念东;  刘增磊;  王越超;  刘连庆
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Electric field induced fabrication of nano dots, lines and pits with AFM 会议论文
2015 IEEE International Conference on Cyber Technology in Automation, Control, and Intelligent Systems (CYBER), Shenyang, China, June 8-12, 2015
Authors:  Li DH(李登辉);  Liu ZL(刘增磊);  Zhang, Ying;  Jiao ND(焦念东);  Liu LQ(刘连庆)
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Nanomanipulation  Nanodeposition  Atomic Force Microscope  Electric Field  Field Emission  
通过施加电流实现原子力显微镜纳米沉积的方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN103879955A, 公开日期: 2014-06-25,
Inventors:  焦念东;  刘增磊;  刘连庆
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基于原子力显微镜(AFM)的纳米焊接方法研究 学位论文
博士, 沈阳: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2014
Authors:  刘增磊
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纳米焊接  原子力显微镜  针尖材料沉积  场蒸发  纳米器件  
Fabrication and characteristic detection of graphene nanoelectrodes 期刊论文
Science China Technological Sciences, 2014, 卷号: 57, 期号: 10, 页码: 1950-1955
Authors:  Xie SX(解双喜);  Liu ZL(刘增磊);  Jiao ND(焦念东);  Tung, Steve;  Liu LQ(刘连庆)
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Atomic Force Microscopy  Chemical Vapor Deposition  Electronic Properties  Fabrication  Microelectrodes  Nanostructures  
基于AFM的纳米线沉积加工方法 期刊论文
科学通报, 2013, 卷号: 58, 期号: S2, 页码: 200-206
Authors:  刘增磊;  焦念东;  刘志华;  王志东;  刘连庆
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纳米操作  纳米沉积  原子力显微镜  电场加工  
A Current Assisted Deposition Method Based on Contact Mode Atomic Force Microscope 会议论文
Proceedings of the 2013 IEEE International Conference on Cyber Technology in Automation, Control and Intelligent Systems, Nanjing, China, May 26-29, 2013
Authors:  Liu ZL(刘增磊);  Jiao ND(焦念东);  Wang ZD(王志东);  Liu LQ(刘连庆)
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Afm  Nano Fabrication  Deposition  Field Emission