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一种SICM的幅度调制成像模式扫描装置和方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN105842484A, 公开日期: 2016-08-10,
Inventors:  刘连庆;  李鹏;  李广勇;  王越超;  杨洋;  周磊;  王栋
View  |  Adobe PDF(992Kb)  |  Favorite  |  View/Download:208/33  |  Submit date:2016/09/07
一种用于原子力显微镜的扫描探针夹持装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN105092900A, 公开日期: 2015-11-25, 授权日期: 2018-01-02
Inventors:  于鹏;  刘柱;  周磊;  杨洋;  王栋;  刘连庆;  焦念东
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一种用于原子力显微镜的扫描探针夹持装置 专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN105092900B, 公开日期: 2015-11-25, 授权日期: 2018-01-02
Inventors:  于鹏;  刘柱;  周磊;  杨洋;  王栋;  刘连庆;  焦念东
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基于梯形算子的AFM驱动器非对称迟滞性校正 期刊论文
仪器仪表学报, 2015, 卷号: 36, 期号: 1, 页码: 32-39
Authors:  王栋;  于鹏;  周磊;  刘柱;  董再励
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非对称pi模型  梯形算子  原子力显微镜  压电陶瓷  迟滞性前馈校正  逆模型直接辨识  
Amplitude Modulation Mode of Scanning Ion Conductance Microscopy 期刊论文
Journal of Laboratory Automation, 2015, 卷号: 20, 期号: 4, 页码: 457-462
Authors:  Li P(李鹏);  Liu LQ(刘连庆);  Yang Y(杨洋);  Zhou L(周磊);  Wang D(王栋);  Wang YC(王越超);  Li GY(李广勇)
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Scanning Ion Conductance Microscopy  Am Mode  Ac Voltage  Capacitance Compensation  Nanoscale Imaging  
Performance improvement of organic solar cells with the introduction of branched zinc oxide nanorods 期刊论文
Micro and Nano Letters, 2015, 卷号: 10, 期号: 6, 页码: 292-295
Authors:  Wei FN(魏发南);  Jiang, Minlin;  Zhou L(周磊);  Dong ZL(董再励)
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Improving atomic force microscopy imaging by a direct inverse asymmetric PI hysteresis model 期刊论文
Sensors (Switzerland), 2015, 卷号: 15, 期号: 2, 页码: 3409-3425
Authors:  Wang D(王栋);  Yu P(于鹏);  Wang FF(王飞飞);  Chan, Ho-Yin;  Zhou L(周磊);  Dong ZL(董再励);  Liu LQ(刘连庆);  Li WJ(李文荣)
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Atomic Force Microscope  Hysteresis  Piezoelectric Actuator  Direct Inverse Asymmetric Pi Model  Feedforward Control  
一种用于原子力显微镜的扫描探针夹持装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN203825035U, 公开日期: 2014-09-10, 授权日期: 2014-09-10
Inventors:  于鹏;  刘柱;  周磊;  杨洋;  王栋;  刘连庆;  焦念东
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基于改进型DLIA的AFM探针高速振幅检测 期刊论文
微纳电子技术, 2014, 卷号: 51, 期号: 12, 页码: 791-797
Authors:  王栋;  于鹏;  周磊;  刘柱;  杨洋;  董再励
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原子力显微镜  轻敲模式  幅值检测  数字锁相放大器  单通道  
基于辨识逆模型的AFM压电驱动器迟滞性前馈校正 会议论文
Proceeding of the 11th World Congress on Intelligent Control and Automation, Shenyang, China, June 29 - July 4, 2014
Authors:  王栋;  于鹏;  周磊;  刘柱;  杨洋;  董再励;  刘连庆
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直接辨识逆模型  原子力显微镜  原子力显微镜  压电陶瓷  迟滞性校正