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一种基于差分降噪的SICM电压调制成像装置和方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2019-02-26,
Inventors:  刘连庆;  滕泽宇;  杨洋;  于鹏;  杨铁;  李广勇
View  |  Adobe PDF(1397Kb)  |  Favorite  |  View/Download:15/3  |  Submit date:2019/03/07
一种SICM的探针样品距离控制方法及系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2018-11-02,
Inventors:  刘连庆;  滕泽宇;  于鹏;  杨洋;  杨铁;  赵亮;  李广勇
View  |  Adobe PDF(865Kb)  |  Favorite  |  View/Download:28/4  |  Submit date:2018/11/18
Fabrication of Sub-Micrometer-Sized MoS2 Thin-Film Transistor by Phase Mode AFM Lithography 期刊论文
Small, 2018, 卷号: 14, 期号: 49, 页码: 1-6
Authors:  Liu LQ(刘连庆);  Shi JL(施佳林);  Li M(李萌);  Yu P(于鹏);  Yang T(杨铁);  Li GY(李广勇)
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AFM lithography  MoS2  TFT fabrication  
一种SICM的正交幅值扫描成像模式的装置和方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2017-12-12,
Inventors:  刘连庆;  杨洋;  于鹏;  藤泽宇;  李鹏;  赵亮;  李广勇
View  |  Adobe PDF(828Kb)  |  Favorite  |  View/Download:74/11  |  Submit date:2017/12/29
一种基于超声AFM的纳米薄膜厚度检测装置及其方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2017-09-22,
Inventors:  刘连庆;  施佳林;  于鹏;  李广勇
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一种基于相位反馈的超声AFM闭环纳米加工装置和方法 专利
专利类型: 发明授权, 公开日期: 2017-09-22, 公开日期: 2019-03-22
Inventors:  刘连庆;  施佳林;  于鹏;  李广勇
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一种基于相位反馈的超声AFM闭环纳米加工装置和方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2017-09-22, 公开日期: 2019-03-22
Inventors:  刘连庆;  施佳林;  于鹏;  李广勇
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Phase mode nanomachining on ultra-thin films with atomic force microscopy 期刊论文
Materials Letters, 2017, 卷号: 209, 页码: 437-440
Authors:  Shi JL(施佳林);  Liu LQ(刘连庆);  Yu P(于鹏);  Li GY(李广勇)
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Atomic Force Microscopy  Thin Films  Wear And Tribology  
Performance Investigation of Multilayer MoS2 Thin-Film Transistors Fabricated via Mask-free Optically Induced Electrodeposition 期刊论文
ACS Applied Materials and Interfaces, 2017, 卷号: 9, 期号: 9, 页码: 8361-8370
Authors:  Li M(李萌);  Liu N(刘娜);  Li P(李盼);  Shi JL(施佳林);  Li GY(李广勇);  Xi N(席宁);  Wang YC(王越超);  Liu LQ(刘连庆)
View  |  Adobe PDF(8116Kb)  |  Favorite  |  View/Download:296/40  |  Submit date:2017/03/26
Mask-free Fabrication  Metal-contact Surface  Multilayer Mos2  Thickness Of Mos2 Film  Thin-film Transistors  
Phase shifting-based debris effect detection in USV-assisted AFM nanomachining 期刊论文
Applied Surface Science, 2017, 卷号: 413, 页码: 317-326
Authors:  Shi JL(施佳林);  Liu LQ(刘连庆);  Yu P(于鹏);  Cong Y(丛杨);  Li GY(李广勇)
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Atomic Force Microscopy (Afm)  Nanomachining  Ultrasonic Vibration  Thin-film