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BIST技术及其在Memory中的应用 期刊论文
仪器仪表学报, 2003, 卷号: 24, 期号: S2, 页码: 633-634,637
Authors:  汪滢;  李晓宁;  王宏;  马纪虎
Adobe PDF(211Kb)  |  Favorite  |  View/Download:346/76  |  Submit date:2010/11/29
内建自检测  线性反馈移位寄存器  特征分析  Memory